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接觸式探針

接觸式探針

零件側面的孔洞或是溝槽等,
以接觸式探針測量

接觸式探針系統,可以選購添加在Micro-Vu影像測量系統中,以構建復合傳感器測量系統,輔助影像測量儀完成一些特殊尺寸的測量。

概述

輔助影像測量儀完成一些特殊尺寸的測量,包括:


1.測量高度:利用測量頭可以測量高度的特性來測量工件表面的高度差;


2.測量球體、柱體:利用測量頭的多方向點接觸可測量到影像量不到的位置;


3.測量平面度:利用測量頭可以測量高度和速度快的特性來快速測量工件表面的平面度。

規格表

多種觸發力,使測頭性能能夠完全符合測量需求。


模塊

SF

標準測力

MF

中測力

EF

高測力

Vertex

 261

Vertex

341

Vertex

342

Excel 

511

Excel 

512

Excel 

701

Excel 

702

Excel

704

TP20-2







TP20-4






TP20-4+







TP20-6







TP20-6+






TP200-2








TP200-4







TP200-4+








TP200-6







TP200-6+








 

備注:

1. TP20-SF標準測力:XY: 0.08N/Z: 0.75N

TP20-MF中測力:XY: 0.1N/Z: 1.9N

TP20-EF高測力:XY: 0.1N/Z: 3.2N

TP200-SF標準測力:XY: 0.02N/Z: 0.07N

2. 探針精度依照測針尺寸不同而定。

3. TP20和TP200不可同時用于同一置換架。

特色

1. 影像測量系統與接觸式探針系統相結合,適用于Vertex和Excel系列機型


2. 多種測頭模塊,滿足各種測量應用的需求


3. 多座探針置換架,快速自動更換測頭,無需重新校正


4. InSpec軟件提供直觀的測頭裝配接口,自動測頭校正和探針置換架

軟件

InSpec測量軟件包含了3D接觸式探針的功能,將探針及影像系統完美整合。


在InSpec軟件中,接觸式探針的使用相似于任何影像工具的使用。


探針軟件

軟件界面

應用

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